膜厚計 LZ-373　校正付

型式	商品コード	備考
LZ-373	R2S P1025 001	校正証明書付　NEW

●測定用途に合わせて接続プローブを差替えするだけで、鉄および非鉄の両金属素地上の皮膜を簡単に測定できます。

●本体にメモリー機能を搭載しています。

●素地補正など一度登録した情報は電源を切っても消えません。

●片手に収まる大きさで、約340gのコンパクト仕様です。

素地	鉄、鋼	塗装、プラスチック、ラッカー、樹脂、ゴム、エナメル、ライニング、亜鉛、クローム、錫、銅、アルミニウム、その他
アルミニウム銅、真鍮等	塗装、アルマイト(陽極酸化被膜)、ゴム、プラスチック、エナメル、ラッカー、樹脂、その他

素地

鉄、鋼

塗装、プラスチック、ラッカー、樹脂、ゴム、エナメル、

ライニング、亜鉛、クローム、錫、銅、アルミニウム、

その他

アルミニウム

銅、真鍮等

塗装、アルマイト(陽極酸化被膜)、ゴム、プラスチック、

エナメル、ラッカー、樹脂、その他

・本体	・プローブ

・Feプローブ

・アルミ素地

・標準板(約500μm)

・標準板(約10μm)

・付属品収納ケース

・校正証明書写し

・NFeプローブ

・標準板(約1500μm)

・標準板(約100μm)

・プローブアダプタ

・標準板収納ケース

・弊社検査成績書

・鉄素地

・標準板(約1000μm)

・標準板(約50μm)

・本体収納ケース

・取扱説明書

商品コード		R2S P1025 001
メーカー		ケツト科学研究所
型式		LZ-373
測定方式		電磁誘導式/過電流式兼用
測定対象		磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
プローブ		一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)
測定範囲	電磁誘導式	0～2500μmまたは99.0mils
測定範囲	過電流式	0～1200μmまたは47.0mils
測定精度		50μm未満：±1μm 50μm以上1000μm未満：±2％ 1000μm以上：±3％
分解能		100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm
データメモリ		39,000点
表示方法		デジタル(バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm)
外部出力		パソコン(USBまたはRS-232C)
電源		電池1.5V(単3アルカリ)×4
消費電力		80mW(バックライト非点灯時)
電池寿命		100時間(バックライト非点灯時、連続使用)
使用温度範囲		0〜40℃
寸法(W×D×H)		75×145×31mm
質量		0.34Kg