膜厚計 LZ-373 校正付
膜厚計 LZ-373 校正付
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特徴
●測定用途に合わせて接続プローブを差替えするだけで、鉄および非鉄の両金属素地上の皮膜を簡単に測定できます。
●本体にメモリー機能を搭載しています。
●素地補正など一度登録した情報は電源を切っても消えません。
●片手に収まる大きさで、約340gのコンパクト仕様です。
測定可能被膜
素地 | 鉄、鋼 |
塗装、プラスチック、ラッカー、樹脂、ゴム、エナメル、 ライニング、亜鉛、クローム、錫、銅、アルミニウム、 その他 |
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アルミニウム 銅、真鍮等 |
塗装、アルマイト(陽極酸化被膜)、ゴム、プラスチック、 エナメル、ラッカー、樹脂、その他 |
外形寸法
・本体 | ・プローブ |
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付属品
・Feプローブ ・アルミ素地 ・標準板(約500μm) ・標準板(約10μm) ・付属品収納ケース ・校正証明書写し |
・NFeプローブ ・標準板(約1500μm) ・標準板(約100μm) ・プローブアダプタ ・標準板収納ケース ・弊社検査成績書 |
・鉄素地 ・標準板(約1000μm) ・標準板(約50μm) ・本体収納ケース ・取扱説明書
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仕様
商品コード | R2S P1025 001 | |
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メーカー | ケツト科学研究所 | |
型式 | LZ-373 | |
測定方式 | 電磁誘導式/過電流式兼用 | |
測定対象 | 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 | |
プローブ | 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) | |
測定範囲 | 電磁誘導式 | 0~2500μmまたは99.0mils |
過電流式 | 0~1200μmまたは47.0mils | |
測定精度 |
50μm未満:±1μm 50μm以上1000μm未満:±2% 1000μm以上:±3% |
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分解能 | 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm | |
データメモリ | 39,000点 | |
表示方法 | デジタル(バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm) | |
外部出力 |
パソコン(USBまたはRS-232C) | |
電源 | 電池1.5V(単3アルカリ)×4 | |
消費電力 | 80mW(バックライト非点灯時) | |
電池寿命 | 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) | |
使用温度範囲 | 0〜40℃ | |
寸法(W×D×H) | 75×145×31mm | |
質量 | 0.34Kg |