膜厚計  LZ-373 校正付

膜厚計  LZ-373 校正付

 R2SP1025_LZ-373_egweb

型式 商品コード 備考
LZ-373 R2S P1025 001 校正証明書付 NEW

特徴

●測定用途に合わせて接続プローブを差替えするだけで、鉄および非鉄の両金属素地上の皮膜を簡単に測定できます。

●本体にメモリー機能を搭載しています。

●素地補正など一度登録した情報は電源を切っても消えません。

●片手に収まる大きさで、約340gのコンパクト仕様です。

 

 

測定可能被膜

素地 鉄、鋼

塗装、プラスチック、ラッカー、樹脂、ゴム、エナメル、

ライニング、亜鉛、クローム、錫、銅、アルミニウム、

その他

アルミニウム

銅、真鍮等

塗装、アルマイト(陽極酸化被膜)、ゴム、プラスチック、

エナメル、ラッカー、樹脂、その他

 

 

 

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外形寸法

・本体 ・プローブ
R2SP1025_LZ-373_sunpo1 R2SP1025_LZ-373_sunpo2

 

 

付属品

・Feプローブ

・アルミ素地

・標準板(約500μm)

・標準板(約10μm)

・付属品収納ケース

・校正証明書写し

・NFeプローブ

・標準板(約1500μm)

・標準板(約100μm)

・プローブアダプタ

・標準板収納ケース

・弊社検査成績書

・鉄素地

・標準板(約1000μm)

・標準板(約50μm)

・本体収納ケース

・取扱説明書

 

 

 

 

 

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仕様

商品コード R2S P1025 001
メーカー ケツト科学研究所
型式 LZ-373
測定方式 電磁誘導式/過電流式兼用
測定対象 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
プローブ 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)
測定範囲 電磁誘導式 0~2500μmまたは99.0mils
過電流式 0~1200μmまたは47.0mils
測定精度

50μm未満:±1μm

50μm以上1000μm未満:±2%

1000μm以上:±3%

分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm
データメモリ 39,000点
表示方法 デジタル(バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm)

外部出力

パソコン(USBまたはRS-232C)
電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4
消費電力 80mW(バックライト非点灯時)
電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用)
使用温度範囲 0〜40℃
寸法(W×D×H) 75×145×31mm
質量 0.34Kg

 

 

 

 

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資料

商品コード R2S P1025 001
取扱説明書
簡易調整ガイド 準備中
付属品一覧
ペラチラシ 準備中
通信カタログ 次号掲載予定
メーカーカタログ

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FAQ

現在FAQは登録されていません。

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この商品に関するお問合せ先

通信計測部 TEL:03-6666-2329 / FAX:03-6666-2536

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