膜厚計 SWT-9000/SWT-8000Ⅱ/校正証付(R2S P0025)

膜厚計 SWT-9000/SWT-8000Ⅱ/校正証付(R2S P0025)

型式 商品コード
SWT-8000Ⅱ R2S 00025 001
SWT-9000 R2S 00025 002

特徴

●測定用途に合わせて接続プローブを差替えするだけで、鉄及び非鉄の両金属素地上の皮膜を簡単に測定できます。

●LCD画面上に操作手順がわかりやすくガイド表示されて、シンプルキーで簡単安心に操作できます。

●ゼロ調整・標準調整はワンタッチボタンの簡単操作です。

用途

1.鉄素地用測定(磁気誘導式プローブ)
●鉄素地上に処理された塗装、ライニングなどの絶縁性皮膜及び 非磁性金属皮膜の厚さを非破壊測定します。
●測定範囲:0〜2.50mm

素地 鉄・鋼・フェライト系ステンレス
測定皮膜 塗装 機器、自動車、船舶、橋梁、鉄鋼構造物など
ライニング 樹脂、タールエポキシ、ゴム、ホーロー、シートなど
メッキ 亜鉛、銅、クロム、スズなど
その他 メタリコン、パーカライジング、酸化膜、容射膜など

 

2.非鉄素地用測定(渦電流式プローブ)
●比較的汎用な測定物の非鉄金属素地上の絶縁性皮膜の厚さを測定します。
●測定範囲:0〜2.00mm

素地 アルミ・アルミ合金・銅・オーステナイト系ステンレス
測定皮膜 塗装 アルミ製品、ステンレス製の内外装建材、機械、タンクなど
陽極酸化皮膜 
(アルマイト)
アルミ製品、アルミサッシ、台所用品、家電製品など
ライニング 各種機器、部品、化学プラントなど

付属品

・標準厚板
・テスト用ゼロ板(電磁用、渦電流用)
・プローブ(電磁用Fe-2.5、渦電流用Nfe-2.0)
・収納袋

表示項目画面例

ガイド表示画面例

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仕様

商品コード R2S 00025 002/001 R2S P0025 002/001
メーカー サンコウ電子研究所
型式 SWT-9000/SWT-8000Ⅱ
校正書写し なし あり
測定範囲 電磁誘導式 0~2.50mm
渦電流式 0~2.00mm
表示分解能 共通 切替1μm(0~999μm)/0.1μm:0~400μm/
0.5μm:400~500μm
電磁誘導式 0.01mm(1.00~2.50mm)
渦電流式 0.01mm(1.00~2.00mm)
測定精度
(平滑面に対して)
共通 0~100μm:±1μmまたは指示値の±2%
電磁誘導式 101μm~2.50mm:±2%以内
渦電流式 101μm~2.00mm:±2%以内
プローブ 電磁誘導式 1点定圧接触式、Vカット付、Φ13×48mm~18×23×67mm
渦電流式 1点定圧接触式、Vカット付、Φ13×47mm~18×23×67mm
検量線メモリ 電磁誘導式 1本
渦電流式 1本
検量線校正 2点校正式 ゼロ点:素地を使用する校正
(CAL) 標準調整点:素地と標準厚板を使用する校正
使用温度範囲 0~40℃(結露しないこと)
電源 単3形乾電池×2本
オートパワーオフ機能付
寸法 全幅W 72mm
奥行D 156mm
全高H 30mm
質量 約210g
校正書付(商品コード:R2S P0025 001/002)について
当該機器は校正機関での年次校正を行っております。
レンタル料に校正機関の校正料金も含まれております。

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資料

商品コード R2S 00025 001  
取扱説明書  
簡易取扱説明書    
付属品一覧  
通信カタログ  
メーカーカタログ  

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FAQ

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この商品に関するお問合せ先

通信計測部 TEL:03-6666-2329 / FAX:03-6666-2536

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